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致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統(tǒng)

3380 VLSI測試系統(tǒng)

主要特色：

• 50/100 MHz 測試頻率
• 50/100 Mbps 數(shù)據(jù)速率
• 1024 數(shù)字通道管腳 (蕞高1280 數(shù)字通道管腳)
• 高達1024 sites 并行測試
• 32/64/128 pattern 記憶體
• 16M capture memory per pin
• 多樣化 VI 電源
• 彈性化硬體架構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel trim/match 功能
• 時序頻率測試單位 (TFMU)
• 高速時序測試單位 (HSTMU)
• 支援STDF工具
• 測試program/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312, V7, TRI-6036等)
• AD/DA功能板卡 *可選配
• SCAN向量存儲深度(蕞高 2G bits/chain) *可選配
• ALPG 測試功能可供記憶體IC用 *可選配
• CRAFT C/C++ 程式語言
• 軟件介面與3380P/3360P相同
• 人性化的 Windows 7操作系統(tǒng)

 為因應未來IC晶片腳位數(shù)更多、速率更高、整合功能更為復雜的發(fā)展驅(qū)勢，Chroma以此發(fā)展方向提供新一代3380系列VLSI測試機臺，包含3380D、3380P、3380機型，根據(jù)不同的腳位數(shù)或并行測試(Parallel Test)，提供需求與成本效益兼具的測試解決方案。

此系列機型之一的VLSI測試系統(tǒng)3380，具有蕞高1280數(shù)字通道管腳、256 VI、彈性化架構、以及完整選項功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色；可符合高同測的市場驅(qū)勢，具備1024數(shù)字通道管腳可并行測試1024個晶片的能力。除了*的4-wire高密度IC電源(VI source)外，彈性化可調(diào)整的架構還可提供Mini & Macro LED驅(qū)動IC、CMOS影像感測器(CIS)、及3D影像測試等解決方案；以利涵蓋更廣泛的IC測試功能與應用范圍。

3380 VLSI測試系統(tǒng)可無縫接軌3380D(256pins)與3380P(512pins)，以因應更高的產(chǎn)能需求。 3380系列VLSI測試系統(tǒng)無論在裝機、穩(wěn)定度、友善使用介面、及成本效益上，長期以來皆已于中國市場獲得廣泛印證。

應用范圍

• 微控制器單元 (MCU)
• ADC/DAC混合信號IC
• 邏輯IC
• ADDA
• ALPG
• Smart card
• Mini & Macro LED驅(qū)動IC
• CMOS影像感測器 (CIS)
• 電源IC (Class D IC)
• 消費性IC
• LED驅(qū)動IC

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致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統(tǒng)

3380P VLSI測試系統(tǒng)

 主要特色：

• 50/100 MHz測試頻率
• 50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
• 512數(shù)字通道管腳 (蕞高可至 576數(shù)字通道管腳)
• 并行測試可達 512 sites 同測數(shù)
• 32/64/128M Pattern 記憶體
• 多樣彈性 VI 電源
• 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match 功能
• 時序頻率測試單位 (TFMU)
• AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可選配
• SCAN向量存儲深度(蕞高 2G bits/chain) *可選配
• ALPG 測試選配供記憶體 IC用
• STDF 工具支援
• 測試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
• 人性化 Window 7 操作系統(tǒng)
• CRAFT C/C++ 程式語言
• 軟件介面與 3380P/3360P 相同
• Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
• Cable mount 治具可相容于3360D與3360P

 為因應未來IC晶片須具備更高速度及更多腳位及更復雜功能的IC晶片，Chroma新一代VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構外，整合密度更高且功能更強大。

3380D/3380P/3380機型為因應高同測(HighParallel Test)功能，除內(nèi)建*的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備Any Pins to Any Site高同測功能(512 I/O pin可并行測512 個測試晶片)，以因應未來IC晶片更高的測試需求。

3380P同時具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機臺性價比。

3380系列VLSI測試系統(tǒng)無論在裝機、穩(wěn)定度、友善使用介面、及成本效益上，長期以來皆已于中國市場獲得廣泛印證。

涵蓋廣泛的應用范圍

Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal); Power, LED driver, Class D; SCAN, ALPG, Match...etc

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3380D VLSI 測試系統(tǒng) 

 主要特色：

• 50/100 MHz測試頻率
• 50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
• 256數(shù)字通道管腳
• 并行測試可達 256 sites 同測數(shù)
• 32/64/128 M Pattern 記憶體
• 多樣彈性 VI 電源
• 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match 功能
• 時序頻率測試單位 (TFMU)
• AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可選配
• SCAN向量存儲深度(蕞高 2G bits/chain) *可選配
• ALPG 測試選配供記憶體IC用
• STDF 工具支援
• 測試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
• 人性化 Window 7 操作系統(tǒng)
• CRAFT C/C++ 程式語言
• 軟件介面與 3380P/3360P 相同
• Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
• Cable mount 治具可相容于3360D與3360P

 為因應未來IC晶片腳位數(shù)更多、速率更高、整合功能更為復雜的發(fā)展驅(qū)勢，Chroma VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構外，整合密度更高，且功能更強大。

3380D/3380P/3380機型為因應高同測功能(High Parallel Test)，除內(nèi)建*的4-wire功能高密度IC電源(VI source) 外，更具備any-pins-to-any-site高同測功能(256數(shù)字通道管可并行測256個測試晶片)，以因應未來IC晶片更高的測試需求。

3380D/3380P/3380系列同時具備機框式直流電源供應的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機臺性價比。

3380D VLSI測試系統(tǒng)非常適合應用于IoT相關的晶片測試，尤其是一些具成本壓力的元件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380 系列開發(fā)至今，已在大中華地區(qū)被廣泛的采用。

滿足晶片測試的各種應用范圍

Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match, and etc.

相容性治具解決方案

3380D C-M FT/CP solution - The cable mount kits are compatible with 3360D/3360P cable mount FT/CP

3380D 3380D D-M CP solution - The direct mount kits are compatible with 3360P/3380P D-M probe card

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